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金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)

定义: MOSFET的缩写金属氧化物半导体场效应晶体管。这是一个装置电压变化决定了导电率的设备。它是一种半导体器件,属于FET族。

MOSFET也被称为IGFET即绝缘栅场效应晶体管。但通常,使用MOSFET这个词是因为大多数器件都是用如果用于半导体和金属氧化物的栅电极。它是一种具有源极、漏极和门极的三端器件。这些都是电压控制设备,在这当前的在源和漏之间流动成比例的提供输入电压。

MOSFET是为了克服FET的缺点而发明的一种先进的FET。由于FET具有较大的漏极电阻,具有中等的输入阻抗和延迟操作。相反,MOSFET的电容值较小,由于漏电电流较小,其输入阻抗远高于FET。

由于它能随外加电压改变电导率,因此在电子信号的开关和放大中得到了广泛的应用。

由于MOSFET体积小,它是数字电路中最常用的晶体管。施加的电压改变了通道宽度。通道宽度越宽,器件的导电性越好。

MOSFET有两种类型:

  1. 耗尽型MOSFET
  2. 增强只有MOSFET

在耗竭型MOSFET中,物理上已经构造了一个通道,并且需要栅源电压来将器件“关闭”。

在增强型MOSFET中,不存在任何预先构造的通道。需要施加在栅极上的电压为其电导形成通道。

让我们来看看N通道耗尽和增强型MOSFET:

n通道de和e通道mosfet

同样,我们也可以构建P沟道耗竭型和增强型MOSFET。

去mosfet和E-MOSFET的结构细节

正如我们之前所讨论的,MOSFET是FET家族的一员。它具有栅端子,栅端子由氧化层绝缘,以防止与基板直接接触。

由于在栅极和通道之间没有注意到电流的流动,MOSFET的这种绝缘栅特性在实际基础上导致了无限阻抗。

下图描述了消耗型MOSFET的结构:

n沟道de-mos结构

增强型MOSFET的结构细节如下所示:

e-mos基本结构

正如我们在上面的图中看到的N沟道去mosfet和N沟道E-MOS的构造,p型衬底被使用。这种轻掺杂的p型衬底包含两个重掺杂的n型材料,从而形成源极和漏极。

一层很薄的硅氧薄膜2是沉积在表面和孔然后切断SiO2。金属通过孔沉积,从而形成漏极和源极端子。金属板也沉积在源极和漏极端子之间,该源极和漏极端子作为器件的门极端子。

SiO2一种绝缘体称为介质,当受到外部施加的电场时,它会产生一个相反的电场。

MOSFET需要的区域是顺序0.003µm2或少和层SiO2提供极高的输入阻抗的数量级1010到1015欧姆。

同样地,为了构造p通道MOSFET,取一个n型衬底,用两个高度掺杂的p型材料扩散,从而形成源极和漏极。

门极端子的结构与n沟道MOSFET相同。

耗尽型MOSFET的工作

在耗竭型(DE-MOS)中,物理上已经构造了导通通道。因此,电流在源极和漏极之间流动没有任何门的偏置电压。

这意味着通道即使在什么情况下也能运行VGS= 0。

下图将帮助您更好地理解DE-MOS:

N通道耗尽模式操作

去mosfet具有工作在正极和负极门电位的能力。当MOSFET在0门极电压下工作时,称为器件在e模式下工作。

在DE-MOSFET时使栅势为负对于衬底,它引起负电荷载流子的排斥出最初形成的通道。这增加通道电阻的合成减少漏极电流。

因此,从上面的讨论,我们可以得出结论,在DE-MOS中,越负的栅极电压,越少的漏极电流流过通道。

在这种情况下,当栅极端子相对于衬底是正的,更多的电子被吸引到通道。从而导致更多的电流通过通道。

一个夹止条件也会在DE-MOS中出现非门电压应用。

耗竭型MOSFET特性曲线

典型的漏极特性n沟道MOSFET如下图所示-

de-mos漏极特性

下面的曲线显示了在没有栅极电压的情况下,极漏电流的极小值从源极流向极漏。

上部的曲线显示栅极电压V时的条件GS为正,较低的曲线表示为负栅极电压的条件。

增强型MOSFET的工作

这是一种类型的MOSFET,其中没有任何通道掺杂的源和漏之间的施工时间,正如你已经在上面看到的数字。

在电- mos中,需要一个正的栅源电压来使通道产生电感应。它需要大正栅电压因其操作。

E-MOS具有广泛的应用前景数字电子领域与计算机。

下图说明了an的工作原理E-MOSFET:

n channel e mos operation11

当栅源电压为0时,E-MOS不导电。由于这个原因,它被称为关MOSFET。当正极栅极电压超过阈值时,漏极电流开始流过器件。

考虑一个正漏极到源极电压的情况门终端是0的潜力。在这种情况下,P型衬底和两个N区就像两个PN结背靠背连接,P衬底提供电阻。

在这种情况下,两个结不能同时是正向偏压,导致非常小的漏极电流反向漏电流。

现在让我们进一步考虑这种情况门是有点积极的相对于源。p型衬底的少数载流子即电子被栅极的正电位所吸引。

这些负载流子聚集或聚集在栅极端子下方的衬底表面。V的任何进一步增加GS会使更多的电子在栅下沉积。

由于使用了电介质,所以这些电子不能流过SiO的绝缘层2。因此,它们在基材本身的表面堆积。因此,一个n沟道是由由源和漏之间少数电荷载流子的积累。

因此,漏极电流ID流经河道。的流动漏极电流取决于通道阻力这又取决于负责运营商吸引了朝向正极门端子。

所以,通过上面的讨论,我们可以得出结论我D是控制通过门电位VGS。它被称为增强型MOSFET,因为通道导电性由正栅极电位增强。

E - MOS特性曲线

特性曲线显示出不同的V值GSI的变化D所示,

e-mos的漏极特性

正如我们已经知道的那样,栅极电位高于阈值会引起漏极电流ID流。所以,当VGS小于V销售税然后大约0漏极电流流动,当VGS大于V销售税然后设备打开。

MOSFET的优点:

  1. MOSFET的运行速度高于JFET。
  2. 输入阻抗比JFET高得多。
  3. 它可以很容易地用于高电流应用。
  4. 这些设备提供了一个简单的制造过程。

MOSFET的缺点:

  1. 这是一个精巧的装置,很容易被摧毁。
  2. 门极对源电压V的过度应用GS可能会摧毁thin SiO2层。

E-MOS更适合于电力设备因为在栅极处需要一个正电位来启动器件的传导。所施加的栅极电压增加了器件的导电性。

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